四点探针，薄层电阻测量系统

Ossila的四点探针系统是一个易于使用的工具，方块电阻，电阻率和材料的电导率的快速测量。

该系统包括一个四点探针，源测量单元和易于使用的PC软件.

技术参数

测量指标

物理指标

特征

宽电流范围 -四点探头能够提供10 nA至150 mA的电流，并且可以测量低至100μV至10 V的电压。这导致薄层电阻测量范围为3mΩ/□至10MΩ/□，可表征多种材料。

易于使用 -只需插入系统，安装软件，即可开始使用！直观的界面和简洁的设计使四点探针易于使用，简化了薄层电阻的测量。可以使用各种形状和尺寸的基板。

高精度 -可以使用PC软件执行正极性和负极性测量。这使您能够计算正负电流之间的平均薄层电阻-消除可能发生的任何电压偏移，从而提高测量的准确性。

无损检测 -四点探头设计时考虑到对精密样品的测量，采用镀金，柔和的弹簧式触点，带圆形尖端。这会产生60克的恒定接触力，从而防止探针刺穿易碎的薄膜，同时仍提供良好的电接触。

节省空间的设计 -通过仔细的设计考虑，我们已经能够将四点探针的占用空间降至最小（总工作台面积为14.5 cm x 24 cm），即使在有架子的繁忙实验室中也可以使用它空间不足。

快速的材料表征 -PC软件（系统随附）对薄层电阻，电阻率和电导率执行所有必要的测量和计算-轻松进行材料表征。它还会自动执行校正因子计算。不需要任何编程知识！

轻松重复实验 -测量所用的设置与数据一起保存，使查找实验细节变得容易。此外，这些设置文件可以由同一软件加载，从而加快重复测量和材料表征的速度。重复测量所需的时间更少，因此您的研究成果可以大大增加。

电脑软件

· 干净直观的界面

· 数据保存到.csv文件

· 计算已知厚度的样品的电阻率和电导率

· 自动校正因子计算

· 保存并加载以前使用的设置

直直观且用户友好的独立PC程序用于控制四点探针测量，从而无需用户自己编写任何代码即可快速表征材料。该PC软件为给定的样品几何形状计算适当的几何校正因子，以确保结果准确。如果提供了厚度，它还可以计算样品的电阻率和电导率，以实现材料的广泛电特性。

薄层电阻测量软件

该软件将数据保存到逗号分隔值（.csv）文件中，从而有助于将数据导入到您首选的分析软件中。设置也会与数据一起保存，因此当您记住实验的详细信息时，您不必担心丢失实验室日记。此外，这些设置文件可以由程序加载，从而使重复实验或再次使用相同/相似设置更加简单快捷。

100 nm ITO膜的四点探针测量

应用实例

材料特性 -电阻率是材料的固有特性，也是重要的电性能。可以通过测量已知厚度的薄膜的薄层电阻来确定，这使四点探针测量成为材料电学表征的关键技术。

薄膜太阳能电池和LED-薄膜设备（例如钙钛矿太阳能电池或有机LED）需要薄的导电电极，该电极可横向传输电荷以将其提取。因此，需要具有低薄层电阻的材料来减少此阶段的潜在损耗。当试图按比例放大这些设备时，这一点变得尤为重要，因为电荷在提取之前必须沿电极行进更多。

请注意，该系统可能不适用于自然形成绝缘氧化物层的硅或其他材料。为了测量此类材料，探针需要穿透氧化物层，而对于该系统所使用的弹簧加载，圆头探针而言，这可能是不可能的。